現(xiàn)實(shí)生活中影響EDI超純水設(shè)備正常運(yùn)行的因素有很多,下面為你介紹一下是什么原因影響設(shè)備正常運(yùn)行及解決辦法。
(1)EDI進(jìn)水電導(dǎo)率的影響。
在相同的操作電流下,隨著原水電導(dǎo)率的增加EDI對(duì)弱電解質(zhì)的去除率減小,出水的電導(dǎo)率也增加。如果原水電導(dǎo)率低則離子的含量也低,而低濃度離子使得在淡室中樹(shù)脂和膜的表面上形成的電動(dòng)勢(shì)梯度也大,導(dǎo)致水的解離程度增強(qiáng),極限電流增大,產(chǎn)生的H+和OH-的數(shù)量較多,使填充在淡室中的陰、陽(yáng)離子交換樹(shù)脂的再生效果良好。
(2)工作電壓-電流的影響。
工作電流增大,產(chǎn)水水質(zhì)不斷變好。但如果在增至最高點(diǎn)后再增加電流,由于水電離產(chǎn)生的H+和OH-離子量過(guò)多,除用于再生樹(shù)脂外,大量富余離子充當(dāng)載流離子導(dǎo)電,同時(shí)由于大量載流離子移動(dòng)過(guò)程中發(fā)生積累和堵塞,甚至發(fā)生反擴(kuò)散,結(jié)果使產(chǎn)水水質(zhì)下降。

(3)濁度、污染指數(shù)(SDI)的影響。
EDI組件產(chǎn)水通道內(nèi)填充有離子交換樹(shù)脂,過(guò)高的濁度、污染指數(shù)會(huì)使通道堵塞,造成系統(tǒng)壓差上升,產(chǎn)水量下降。
(4)硬度的影響。
如果EDI中進(jìn)水的殘存硬度太高,會(huì)導(dǎo)致濃縮水通道的膜表面結(jié)垢,濃水流量下降,產(chǎn)水電阻率下降;影響產(chǎn)水水質(zhì),嚴(yán)重時(shí)會(huì)堵塞組件濃水和極水流道,導(dǎo)致組件因內(nèi)部發(fā)熱而毀壞。
(5)TOC(總有機(jī)碳)的影響。
進(jìn)水中如果有機(jī)物含量過(guò)高,會(huì)造成樹(shù)脂和選擇透過(guò)性膜的有機(jī)污染,導(dǎo)致系統(tǒng)運(yùn)行電壓上升,產(chǎn)水水質(zhì)下降。同時(shí)也容易在濃縮水通道形成有機(jī)膠體,堵塞通道。
(6)Fe、Mn等金屬離子的影響。
Fe、Mn等金屬離子會(huì)造成樹(shù)脂的“中毒”。樹(shù)脂的金屬“中毒”會(huì)造成EDI出水水質(zhì)的迅速惡化,尤其是硅的去除率迅速下降。另外變價(jià)屬對(duì)離子交換樹(shù)脂的氧化催化作用,會(huì)造成樹(shù)脂的永久性損傷。
(7)進(jìn)水中CO2的影響。
進(jìn)水中CO2生成的HCO3-是弱電解質(zhì),容易穿透離子交換樹(shù)脂層而造成產(chǎn)水水質(zhì)下降。
(8)總陰離子含量(TEA)的影響。
高的TEA將會(huì)降低EDI產(chǎn)水電阻率,或需要提高EDI運(yùn)行電流,而過(guò)高的運(yùn)行電流會(huì)導(dǎo)致系統(tǒng)電流增大,極水余氯濃度增大,對(duì)極膜壽命不利。
另外,進(jìn)水溫度、pH值、SiO2以及氧化物亦對(duì)EDI系統(tǒng)運(yùn)行有影響。
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